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熱學性能測量設備

調制熱成像分析儀 顯示全部
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調制熱成像分析儀

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交鑰匙調制熱顯微成像系統,生成納米級分辨率的活躍電子學熱圖

所屬類別:材料分析設備 ? 熱學性能測量設備

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姓名:谷工(Givin)

電話:185 1625 1863(微信同號)

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調制熱成像分析儀

調制熱成像分析儀T°Imager是一套交鑰匙,CCD熱顯微成像系統,生成納米級分辨率的活躍電子學熱圖像T°Imager調制熱成像分析儀利用熱反射率原理,將被測器件反射率的微小差異與溫度變化聯系起來,從而說明被測設備(DUT)的表面溫度變化。其全光學技術無需特殊的表面處理就能快速、無創地生成大型熱成像。利用近紫外、可見光和近紅外光譜中的光,T°Imager成像儀還可以對目前紅外技術透明或拉曼光譜無法測量的材料進行測量。

T°Imager成像測量頭首先將指定波長的一束光傳輸到待測器件(DUT)。然后,它利用一個與DUT調制同步的高動態范圍(HDR)相機來捕捉DUT的熱(開)和冷(關)狀態的圖像。T°Imager調制成像系統將這兩對圖像之間的光強變化轉換為溫度差,并生成一個熱圖像,該圖像的像素分辨率為0.1 um (3.9E-6 in.),可以顯示小至0.1 ℃(0.18 F)的變化。直觀的用戶界面允許用戶查看和定位DUT,方便地操作DUT激活設置,控制數據采集過程,保存和/或導出生成的溫度場。該界面還提供了手動對焦幫助,方便清晰的熱成像。

調制熱成像分析儀T°Imager基礎系統包括一個測量頭(帶有一個光端口和一個四位置物鏡塔臺)、一個系統控制單元、一個照明源、一個系統機架站和一個大型計算機顯示器。T°Imager成像系統的緊湊的測量頭很容易安裝到客戶配備探測站與適配器板。額外的定制設備包括一個浮動工作臺,以減少可能影響測量的環境振動。


數據分析

調制熱成像分析儀T°Imager用戶界面包含對收集的數據執行初始分析所需的所有工具。熱成像結果立即出現在窗口中,與被測設備的實時視圖相鄰。用戶可以從下拉菜單選擇可視化反射率的變化(ΔR / R), 熱調制反射系數(CTR),溫度的變化,而致發光強度測試設備表面。用戶還可以在視圖域中創建垂直和水平跟蹤,以生成結果的線圖。TMX Scientific還提供了T Pixel,這是一個深入的獨立軟件應用程序,提供完美的像素分析和逐像素校準。


多功能和定制化

調制熱成像分析儀T°Imager的模塊化設計使其能夠根據您的需要輕松地開發擴展。不同的光源選擇,并考慮升級到校準包或瞬態包,以充分利用系統的功能。


產品特點: 

  • 大熱成像尺寸: 達1000×1000pixels

  • 優越的空間分辨率:0.2 μm(7.8E-6 in.)

  • 速度:數秒內完成完整的亞微米熱成像

  • 溫度精度:優于實測溫度變化的3%以內

  • 交鑰匙操作 

  • 無需表面處理或噴涂

  • 測量對紅外線透明的材料

  • 非接觸,全光接近

  • 模塊化設計

  • 便攜性好:緊湊,探測站可安裝

  • 靈活性高:可調觸發設備激活

  • T°Viewer軟件包

  • 瞬態能力(含瞬態包)

  • 新穎的逐像素校準(使用T°像素?和校準包)

  • 納米級動態對齊(使用T°Pixel?或校準包)


應用領域

  • 測量有源電子和光電子器件(MEMS)的表面溫度場

  • 測量任何類型的外部調制和可控加熱微尺度結構的表面溫度場

  • 驗證微電子器件和集成電路的熱設計

  • 根據熱成像進行質量控制

  • 定位熱點和測量振幅

  • 診斷產生熱點的缺陷

  • 電致發光監測



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產品標簽:時域熱反射,熱反射成像,瞬態熱成像,穩態熱成像,材料熱性能分析

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